E+H雷達物位計:測量可靠性高,基于多回波追蹤計算,即使倉內存在障礙物依然能夠準確測量.
E+H雷達物位計優勢
• 硬件和軟件開發過程符合IEC 61508標準,單臺儀表滿足SIL2, 同構冗余條件下達SIL3
• HistoROM集成數據存儲單元,幫助快速調試、維修和診斷
• 測量可靠性高,基于多回波追蹤計算,即使倉內存在障礙物依然能夠準確測量
• 無縫集成到控制或設備管理系統
• 直觀的菜單引導式操作(在線或通過控制系統)
• 通過世界的SIL和WHG實驗認證,節約您的時間和經濟成本
• 基于雙陶瓷耦合與氣密引線設計,安全性非常高
E+H雷達物位計
雷達物位計發射功率很低的極短的微波通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候,最新的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸,可以將上空距離值轉換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好,料倉內的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
應用領域
喇叭狀探頭,可勝任端工況下的物位測量。
• 過程連接:1?" 螺紋, 卡箍連接或法蘭
• 溫度范圍:-196 至 +450°C (-321 至 + 842°F)
• 壓力范圍: -1 至 +160bar (-14.5 至 +2,320psi)
• Z大測量范圍:40m (131ft), 高動態響應70m (230ft)
• 精度誤差:±2mm
• K波段:26GHz
• 防爆認證, 5-point線性協議, WHG, 造船資質認證, 氣密引線